Mikrometr s zaoblenými měřicími plochami 0–25 mm (EDE41210025) je určen pro přesné měření tloušťky materiálů, kde je potřeba minimalizovat otlak na měřeném povrchu. Zaoblené měřicí plochy umožňují měřit například trubky, dráty nebo další zakřivené předměty bez rizika deformace.
Rozsah měření tohoto mikrometru je od 0 do 25 mm, což pokrývá běžné potřeby v dílnách, laboratořích i výrobních provozech. Přesnost měření je zajištěna robustní konstrukcí a precizním zpracováním měřicích ploch.
Zaoblené měřicí plochy jsou navrženy tak, aby se přizpůsobily tvaru měřeného objektu. Díky tomu je možné získat spolehlivé výsledky i u předmětů s nerovným nebo zakřiveným povrchem, kde by ploché měřicí plochy mohly způsobit chybu.
Tělo mikrometru je vyrobeno z odolných materiálů, které zajišťují dlouhou životnost a stabilitu měření. Ergonomický tvar rukojeti usnadňuje manipulaci a umožňuje pohodlné používání i při delší práci.
Mikrometr je vhodný pro techniky, mechaniky i kontrolory kvality, kteří potřebují přesně měřit rozměry zakřivených nebo kulatých součástí. Díky jednoduchému ovládání a jasně čitelným stupnicím je práce s tímto nástrojem efektivní a přehledná.
